一、探针的定义

探针，英文Test probe，是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件。探针包括测试探针、半导体探针、ICT探针、高频探针、高电流探针、电池接触探针等。

二、探针的分类

探针分类 探针根据电子测试用途可分为：

A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品；

B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；

C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。 探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针：劈刀型（Blade Type）和环氧树脂型（Epoxy Type） 垂直探针：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探针　（ICT series Probes) 一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试．也称ICT测试和FCT测试．也是目应用较多的一种探针．

2.界面探针(Interface Probes) 非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达（Teradyne)和安捷伦（Agilent)．用于测试机台与测试夹具的接触点和面．

3.微型探针（MicroSeries Probes) 两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm．

4.开关探针（Switch Probes) 开关探针单独一支探针有两路电流．

5.高频探针（Coaxial Probes) 用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的．

6.旋转探针（Rotator Probes) 弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试．

7.高电流探针（High Current Probes) 探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes) 直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts) 一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长．

10.汽车线束测试测试探针 专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A 除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用．